Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
Espectrofotômetro UV e UV-VIS |
Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: até 3 nm) |
0,06 nm |
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Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: acima de 3 nm a 5 nm) |
0,11 nm |
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Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: 10 nm) |
1 nm |
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Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: até 5 nm) |
0,11 nm |
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Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: 10 nm) |
1 nm |
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Escala fotométrica VIS: até 1,3 A (largura de banda: até 10 nm) |
0,003 A |
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Escala fotométrica UV: até 1,5 A (largura de banda: até 10 nm) |
0,004 A |
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Escala fotométrica VIS em transmitância: 5 %T até 99 %T (largura de banda até 6,5 nm) |
0,04 %T a 0,6 %T |
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Escala fotométrica VIS: acima de 1,3 A até 3,3 A (largura de banda: até 6,5 nm) |
0,02 A |
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Escala fotométrica VIS em transmitância: 0,05 %T até 5 %T
(largura de banda até 6,5 nm) |
0,003 %T |
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Método de calibração por comparação com filtros padrão |
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Filtro (Comprimento de Onda) |
De 195 nm a 650 nm largura de banda de 0,1 a 3 nm |
0,06 nm |
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De 195 nm a 650 nm largura de banda acima de 3 a 5 nm |
0,13 nm |
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Acima de 650 nm a 890 nm largura de banda entre 0,1 e 5 nm |
0,13 nm |
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Método de calibração com espectrofotômetro |
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Filtro (Transmissividade) |
5 %T a 99 %T (absorbância entre 0 A e 1,3 A) na faixa de comprimentos de onda entre 230 nm e 841 nm |
0,060 %T a 0,7 %T ou 0,004 A |
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0,05 %T até 5 %T (absorbância acima de 1,3 A a 3,3 A) na faixa de comprimentos de onda entre 440 nm e 635 nm e largura de banda até 6,5 nm |
0,003 %T ou 0,02 A |
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Método de calibração com espectrofotômetro |
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Lensômetro |
-25 D até 25 D (esférico) |
* 0,05 D |
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5 D (cilíndrica) |
* 0,03 D |
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5 Λ (prismática) |
* 0,02 Λ |
|
0° até 180° (desvio angular) |
* 0,02° |
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Método de calibração por comparação com lentes padrão |
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Polarímetro |
Rotação óptica
Faixa: -10° a 50° |
0,003° |
|
Método de calibração com placas de quartzo |
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Sacarímetro Polarimétrico |
Rotação óptica
Faixa: -30° Z a 145° Z |
0,015° Z |
|
Método de calibração com placas de quartzo |
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Refratômetro |
1,33 nD |
0,00002 nD |
|
> 1,33 nD até 1,4 nD |
0,00003 nD |
|
> 1,4 nD até 1,56 nD |
0,00011 nD |
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(0 a 90) % Brix |
(0,01 a 0,05) % Brix |
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Método de calibração por comparação com MRC ou com refratômetro |
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Espectrofotômetro UV e UV-VIS |
Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: até 3 nm) |
0,06 nm |
|
Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: acima de 3 nm a 5 nm) |
0,11 nm |
|
Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: 10 nm) |
1 nm |
|
Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: até 5 nm) |
0,11 nm |
|
Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: 10 nm) |
1 nm |
|
Escala fotométrica VIS: até 1,3 A (largura de banda: até 10 nm) |
0,003 A |
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Escala fotométrica UV: até 1,5 A (largura de banda: até 10 nm) |
0,004 A |
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Escala fotométrica VIS em transmitância: 5 %T até 99 %T (largura de banda até 6,5 nm) |
0,04 %T a 0,6 %T |
|
Escala fotométrica VIS: acima de 1,3 A até 3,3 A (largura de banda: até 6,5 nm) |
0,02 A |
|
Escala fotométrica VIS em transmitância: 0,05 %T até 5 %T
(largura de banda até 6,5 nm) |
0,003 %T |
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Método de calibração por comparação com filtros padrão |
|
Lensômetro |
-25 D até 25 D (esférico) |
* 0,05 D |
|
5 D (cilíndrica) |
* 0,03 D |
|
5 Λ (prismática) |
* 0,02 Λ |
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0° até 180° (desvio angular) |
* 0,02° |
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Método de calibração por comparação com lentes padrão |
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Polarímetro |
Rotação óptica
Faixa: -10° a 50° |
0,003° |
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Método de calibração com placas de quartzo |
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Sacarímetro Polarimétrico |
Rotação óptica
Faixa: -30° Z a 145° Z |
0,015° Z |
|
Método de calibração com placas de quartzo |
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Refratômetro |
1,33 nD |
0,00002 nD |
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> 1,33 nD até 1,4 nD |
0,00003 nD |
|
> 1,4 nD até 1,56 nD |
0,00011 nD |
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(0 a 90) % Brix |
(0,01 a 0,05) % Brix |
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Método de calibração por comparação com MRC ou com refratômetro |
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