Gocal

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Detalhes do Laboratório
Nome do Laboratório:	MITUTOYO LABORATÓRIO DE CALIBRAÇÃO BRASIL
Acreditação:	31
Data da Acreditação:	1992-09-15
Última Revisão do Escopo:	2024-09-11
Razão Social:	MITUTOYO SUL AMERICANA LTDA.
Situação:	Ativo
Endereço:	Avenida Mimes, n° 25, Loteamento multivias II, Jardim Ermida I, Jundiaí - SP
CEP:	13212216
Telefone:	(11) 4746-5949
Fax:	(11) 4746-5960
Email:	eduardo_miranda@mitutoyo.com.br
Grupo de Serviço de Calibração:	DIMENSIONAL
Gerente Técnico:	Eduardo Ferreira Miranda

Escopo de Calibração
Serviço	Parâmetro	CMC
Descrição do Serviço	Parâmetro, Faixa e Método	Capacidade de Medição e Calibração (CMC)
Gabarito de Ângulos	Até 360°	30"
	Método de medição em uma máquina de medição por coordenadas
Goniômetro	até 360º	5´
	Método de medição em uma máquina de medição por coordenadas
Nível de Bolha	até 10 mm/m	0,5"
	Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um cabeçote micrométrico com uma base de apoio de comprimento conhecido
Nível Eletrônico	até 10 mm/m	0,3"
	Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um cabeçote micrométrico com uma base de apoio de comprimento conhecido
	e sistema laser de medição
Nível Goniométrico	até 45º	1,2´
	Método de comparação com o ângulo de referência gerado pela régua de seno e o padrão escalonado com tambor micrométrico contra o ângulo
	indicado pelo nível goniométrico
Apalpador Eletrônico	até 2 mm	0,2 µm
	Método de comparação com calibrador de relógios
Calibrador de Relógio Comparador / Apalpador	até 200 mm	0,11 µm
	Método de comparação com sistema laser de medição
Comparador de Deslocamento	até 100 mm	0,2 µm
	Método de calibração com calibrador de relógios
Comparador de Diâmetros Internos	até 300 mm	0,6 µm
	Método de calibração com calibrador de relógios
Gabarito de Folga	Até 5mm	0,5µm
	Método de medição com máquina de medição linear
Gabarito de Raio	Até 1500 mm	0,5 µm
	Método de medição com máquina medição por coordenadas
Medidor de Altura	até 1000 mm	[1,5 + (L/1000)] µm
	Método de comparação com padrão escalonado e bloco padrão sobre o desempeno de granito
Medidor de Espessura com Relógio Comparador	Até 25 mm	1,0 µm
	Método de comparação com blocos padrão
Micrômetro Externo	até 25 mm	0,2 µm
	>25 mm a 300 mm	1 µm
	>300 mm até 600 mm	3 µm
	Método de comparação com blocos padrão, plano óptico e paralelo óptico
Micrômetro Interno de 2 pontas	3 mm até 100 mm	2 µm
	>100 mm até 300 mm	3 µm
	>300 mm até 600 mm	4 µm
	Método de calibração com máquina de medição linear e padrão escalonado
Micrômetro Interno de 3 pontas	3 mm até 100 mm	2 µm
	>100 mm até 300 mm	3 µm
	Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico
Paquímetro	até 300 mm	0,01 mm
	>300 mm até 1500 mm	0,02 mm
	Método de comparação com blocos padrão e padrão escalonado
Régua Graduada	até 200 mm	1,0 µm
	>200mm até 300mm	1,5 µm
	>300mm até 1000mm	0,01 mm
	>1000 mm até 2000 mm	0,02 mm
	Método de medição da distância entre traços com microscópio
	Método de medição da distância entre traços com máquina de medição com sistema ótico acoplado e sistema laser de medição
Relógio Apalpador	até 2 mm	0,6 µm
	Método de calibração com calibrador de relógios
Relógio Comparador	até 65 mm	0,60 µm
	> 65 até 100 mm	2,0 µm
	Método de calibração com calibrador de relógios
Tambor Micrométrico	até 50 mm	0,8 µm
	Calibração por comparação com máquina de medição linear
Trena	até 5,5 m	0,02 mm até 0,06 mm
	Método medição da distância entre traços, com máquina de medição com sistema ótico acoplado e sistema laser de medição
Comparador de Blocos Padrão	até 100 mm	0,032 µm
	Método de comparação com blocos padrão de referência.
Maquina de Medição de Perfil	Eixo X - até 200 mm	0,8 µm
	Eixo Z - até 100 mm	0,2 µm
	Ângulo	0,012°
	Raio	1,0 µm
	Método: comparação com padrão de perfil ou com blocos padrão, calibrador tampão liso cilíndrico, padrão angular, padrão de circularidade e
	padrão de perfil ou padrão de referência
Máquina para Medição de Rugosidade	0,1 µm < Ra, Rz, Rmáx (Ry), Pt, Wt < 50 µm	Ra, Rz, Rmáx (Ry), Rsm, Pt, Wt = 4%
	Método: Comparação com padrões de rugosidade e padrão de amplificação vertical ou padrão de referência
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças Diversas	Até 1500 mm	0,5 µm
	Método de medição com máquina de medição por coordenadas, microscópio e máquina de medir forma
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes	até 1500 mm	0,5 µm
	Método de medição com máquina de medição por coordenadas, microscópio e máquina de medição linear
Arame para Medição de Roscas	até 5 mm	0,5 µm
	Método de medição com máquina de medição linear
Bloco Padrão	Até 100 mm	0,05 + ( L/2000 ) µm
	>100 até 1000 mm	[0,55 + (L/2500)] µm
	Método de comparação com bloco padrão utilizando comparador de blocos
	Método interferométrico (sistema laser de medição)
Calibrador Anel Liso Cilíndrico	Parâmetro: diâmetro 3 mm até 500 mm	0,5 + L/1500 µm (L em mm
	Diâmetro: Método de comparação direta com calibrador anel liso cilíndrico de referência, utilizando uma máquina de medição linear ou
	máquina de medição por coordenadas.
Calibrador de Boca	Até 300 mm	2,0 µm
	Método de medição com máquina de medição por coordenadas
Calibrador Tampão Liso Cilíndrico	até 100 mm	0,6 µm
	Diâmetro: Método de comparação direta com bloco padrão de comprimento, utilizando uma máquina de medição linear.
Esfera Padrão	até 50 mm	0,6 µm
	Método de medição com máquina de medição linear
Haste Padrão	até 1500 mm	[0,4 + (L/1000)] µm
	Método de comparação com bloco padrão, máquina de medição linear ou máquina de medição por coordenadas e sistema laser de medição
Moldura	Até 5 mm	0,6 µm
	Método de medição com máquina de medição por coordenadas
Padrão de Espessura para Medidas de Espessura de Camada de Tinta Seca	até 5 mm	0,6 µm
	Método de medição com máquina de medição linear
Padrão Escalonado	até 2000 mm	[0,5 + (L/1000)] µm
	Método de medição com sistema laser de medição
Padrão Escalonado com Tambor Micrométrico	até 1000 mm	[0,5 + (L/1000)] µm
	Método de medição com sistema laser de medição acoplado ao medidor de altura
Padrão Escalonado para Micrômetro de Profundidade	até 300 mm	[0,5 + (L/1000)] µm
	Método de medição com sistema laser de medição.
Esquadro	até 1000 mm	1,5 µm
	Método de medição com medidor de perpendicularidade e apalpador eletrônico utilizando-se o método da reversão ou máquina de medição por coordenadas
Esquadro Cilíndrico	até 600 mm	1,5 µm
	Método de medição com medidor de perpendicularidade e apalpador eletrônico utilizando-se o método da reversão
Paralelo Óptico	até 100 mm	0,05 µm
	Método de medição com comparador de blocos padrão e luz monocromática
Régua Padrão de Retitude	até 1500 mm	0,5 µm
	>1500 mm até 3000 mm	2,0 µm
	Determinação da retitude utilizando apalpador eletrônico acoplado no comparador de deslocamento em desempeno
Padrão de Rugosidade	0,1 µm < Ra, Rz, Ry < 50 µm	Ra, Rz e Rz1max, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2 = 4% RSM= 4%
	Método: Calibração em máquina de medição de rugosidade
Calibrador Tampão Roscado Cilíndrico	Até 200 mm	Diâmetro do flanco=0,003 mm Passo=0,002 mm Ângulo=0,06º
	Método de medição com máquina de medição linear utilizando pares de arames duplos e simples e microscópio universal
Gabarito de Roscas	Até 1500 mm	0,5 µm
	Método de medição em microscópio e máquina de medição por coordenadas
Comparador de Blocos Padrão	até 100 mm	0,032 µm
	Método de comparação com blocos padrão de referência.
Maquina de Medição de Perfil	Eixo X - até 200 mm	0,8 µm
	Eixo Z - até 100 mm	0,2 µm
	Ângulo	0,012°
	Raio	1,0 µm
	Método: comparação com padrão de perfil ou com blocos padrão, calibrador tampão liso cilíndrico, padrão angular, padrão de circularidade e
	padrão de perfil ou padrão de referência.
Máquina de Medição Linear	Até 1000 mm	[0,2 + (L/1700)] µm
	Método de comparação com sistema laser de medição
Máquina de Medição por Coordenadas	até 2000 mm	[0,18 + (L/3000)] µm
	até 10000 mm	[0,14 + (L/7000)] µm
	Método de comparação com bloco padrão dimensional, padrão escalonado e esfera de origem
	Método de comparação com sistema laser de medição, bloco padrão dimensional e esfera de origem.
Máquina para Medição de Rugosidade	0,1 µm < Ra, Rz, Rmáx (Ry), Pt, Wt < 50 µm	Ra, Rz, Rmáx (Ry), Rsm, Pt, Wt = 4%
	Método: Comparação com padrões de rugosidade e padrão de amplificação vertical ou padrão de referência
Microscópio	até 300 mm (Deslocamento da mesa)	2 µm
	Método de comparação com régua de vidro com escala linear e escala angular
Projetor de Perfil	até 300 mm (Deslocamento da mesa)	2 µm
	Método de comparação com régua de vidro com escala linear e escala angular
Desempeno	300 mm até 3000 mm	0,6 µm a 2,0 µm
	Determinação do erro de planeza com nível eletrônico