| Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
| Analisador de Espectro Óptico |
Comprimento de Onda |
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de 632 nm até 1530 nm |
0,03 nm* |
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> 1530 nm até 1560 nm |
0,003 nm* |
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> 1560 nm até 1630 nm |
0,02 nm* |
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Nível absoluto |
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1310 nm |
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0 dBm até -50 dBm |
0,17 dB* |
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1550 nm |
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0 dBm até -50 dBm |
0,19 dB* |
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Linearidade |
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1310 nm e 1550 nm |
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nível de 0 dBm a -40 dBm |
0,08 dB* |
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1310 nm |
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<-40 dBm a -50 dBm |
0,12 dB* |
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<-50 dBm a -60 dBm |
0,13 dB* |
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1550 nm |
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<-40 dBm a -50 dBm |
0,11 dB* |
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<-50 dBm a -60 dBm |
0,14 dB* |
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Método por comparação com fontes de luz, células de absorção e medidores |
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| Atenuador Óptico |
1310 nm e 1550 nm |
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até 50 dB |
0,13 dB* |
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Método medição direta com padrões |
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| Fonte de Luz / Laser |
Comprimento de onda |
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632 nm até 1630 nm |
0,03 nm* |
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Nível |
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1310 nm |
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0 dBm até -50 dBm |
0,17 dB |
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1550 nm |
|
|
0 dBm até -50 dBm |
0,19 dB* |
|
Método da medição direta com padrões |
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| Medidor de Frequência / Comprimento de Onda |
632,99 nm |
0,033 nm* |
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de 1520 nm até 1630 nm |
0,043 nm* |
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Método por comparação direta com padrões |
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| Medidor de Potência Óptica |
Nível Absoluto |
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1310 nm |
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0 dBm até -70 dBm |
0,17 dB |
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1550 nm |
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0 dBm até -50 dBm |
0,19 dB |
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< -50 dBm até -70 dBm |
0,20 dB |
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Linearidade |
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1310 nm e 1550 nm |
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0 dBm até -40 dBm |
0,08 dB* |
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-40 dBm até -50 dBm |
0,10 dB* |
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< -50 dBm até -70 dBm |
0,12 dBm* |
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Método por comparação direta com padrões |
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| Refletômetro Óptico de Domínio do Tempo (OTDR) |
1310 nm |
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Comprimento de fibra |
25 ppm |
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Atenuação |
0,09 dB |
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1550 nm |
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Comprimento de fibra |
25 ppm |
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Atenuação |
0,16 dB |
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Método por comparação com fibra óptica de referência |
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