Detalhes do Laboratório

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Detalhes do Laboratório
Nome do Laboratório:K&L Laboratório de Metrologia
Acreditação:65
Data da Acreditação:1995-06-08
Última Revisão do Escopo:2024-06-14
Razão Social:Sergio Luiz Lenzi
Situação: Ativo
Endereço:Rua Sorocaba, 265, Floresta, Joinville - SC
CEP:89212210
Telefone:(47) 3426-1712
Fax:(47) 3426-1712
Email:gerencia.tecnica@kellab.com.br.
Grupo de Serviço de Calibração:DIMENSIONAL
Gerente Técnico:Mauro Godinho
Escopo de Calibração
Serviço Parâmetro CMC
Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)
Escala Angular Digital Até 360 ° 1,0 ´
Método de comparação com máquina de medição por coordenadas
Escala Angular Graduada Até 360 ° 2,5 ´
Método de comparação com projetor de perfil
Gabarito de Ângulos Até 360º 1`
Método de medição em projetor de perfil e máquina de medição por coordenada
Goniômetro Até 360º 2´
Método de comparação com padrão de ângulo (esquadro de granito)
Método de medição em máquina de medição por coordenadas
Nível de Bolha Até 400 mm 0,01 mm/m
Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um dispositivo gerador de pequenos deslocamentos,
com base de apoio de comprimento conhecido
Nível Goniométrico Até 360° 1'
Método de comparação com padrão de ângulo (esquadro de granito)
Método de medição em máquina de medição por coordenadas
Apalpador Eletrônico Até 5 mm [0,3 + (L/1000)] µm, sendo L em mm
Método de comparação com máquina de medição linear
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Calibrador de Relógio Comparador / Apalpador Até 100 mm [0,15 + (L/500)] µm, L em mm
Método de comparação com comparador de deslocamento
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Comparador de Deslocamento Até 100 mm [0,3 + (L/ 1000)] µm, L em mm
Método de comparação com calibrador de relógios
Método de comparação com máquina de medição linear
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Comparador de Diâmetros Internos Até 400 mm 1,0 µm
Método de comparação com calibrador de relógios
Método de comparação com máquina de medição linear
Gabarito de Folga Até 50 mm 0,5 µm
Método de medição com máquina de medição linear
Gabarito de Raio Até 500 mm 5,0 µm
Método de medição com projetor de perfil ou máquina medição por coordenadas
Medidor de Altura Até 1000 mm [1,5 + (L/500)] µm, L em mm
Método de comparação com padrão escalonado
Método de comparação com blocos padrão sobre desempeno de granito
Medidor de Espessura com Relógio Comparador Até 400 mm 1,0 µm
Método de comparação com blocos padrão
Método de calibração com calibrador de relógios
Medidor de Espessura de Camada de Tinta Seca Até 2 mm 1,0 µm
Método de comparação com padrão de espessura para camada de tinta seca
Micrômetro de Profundidade Até 150 mm 2 µm
(> 150 até 500) mm [5 + (L/100)] µm, sendo L em mm
Método de comparação com blocos padrão e padrão escalonado de profundidade
Micrômetro Externo Até 25 mm 0,3 µm
(> 25 até 100) mm 2 µm
(> 100 até 200) mm 4 µm
(> 200 até 300) mm 7 µm
(> 300 até 600) mm 9 µm
(> 600 até 700) mm 10 µm
(> 700 até 900) mm 13 µm
(> 900 até 1000) mm 16 µm
(>1000 até 2000) mm 30 µm
Método de comparação com blocos padrão, plano óptico e paralelos ópticos
Micrômetro Interno de 2 pontas (2 até 500) mm [1 + (L/ 500)] µm, sendo L em mm
(> 500 até 2000) mm [5 + (L/ 220)] ìm, sendo L em mm
Método de calibração com máquina de medição por coordenadas
Método de calibração com calibrador anel liso cilíndrico
Método de calibração com máquina de medição linear
Micrômetro Interno de 3 pontas 2 mm até 200 mm 2 µm
Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico
Paquímetro Até 300 mm 0,01 mm
(> 300 até 600) mm 0,02 mm
(> 600 até 1000) mm 0,03 mm
(> 1000 até 2000) mm 0,04 mm
Método de comparação com blocos padrão
Método de comparação com padrão escalonado
Método de comparação com anel liso cilíndrico
Peneira Granulométrica Até 4 mm 4 µm
(> 4 mm até 100) mm 0,02 mm
Medição de aberturas e diâmetros de fios ou arames com projetor de perfil, máquina de medição por coordenadas ou paquímetro
Régua Graduada Até 600 mm [1,0 + (L/1000)] µm, L em mm
(> 600 até 3000) mm [0,05 + (L/10000)] mm, L em mm
Medição da distância entre traços, com máquina de medição linear ou projetor de perfil
Método de comparação com sistema laser interferométrico ou com máquina de medição linear.
Relógio Apalpador Até 10 mm 0,7 µm
Método de comparação com calibrador de relógios
Método de comparação com máquina de medição linear
Relógio Comparador Até 100 mm 0,7 µm
Método de calibração com calibrador de relógios
Método de calibração com máquina de medição linear
Tambor Micrométrico Até 100 mm [0,5 + (L/500)] µm, sendo L em mm
Método de comparação com máquina de medição linear
Trena Até 0,6 m 0,04 mm
(> 0,6 até 100) m [0,1 + (L/12)] mm, sendo L em m
Método de comparação com máquina de medição linear
Trena a Laser Até 25 m [0,3 + (L/25)] mm, L em m
ISO 16331-1:2017
Método de comparação com trena a laser padrão
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Comparador de Blocos Padrão Até 100 mm 0,04 µm
Método de comparação com blocos padrão
Máquina de Medição de Forma Cilindricidade 0,55 µm
Circularidade 0,05 µm
Retitude vertical até 450 mm 0,30 µm
Retitude horizontal até 150 mm 0,30 µm
Paralelismo até 450 mm 0,85 µm
Planeza até 50 mm 0,10 µm
Planeza (> 50 até 100) mm 0,15 µm
Perpendicularidade até 300 mm 0,50 µm
Perpendicularidade (> 300 até 450) mm 1,7 µm
Sensibilidade do apalpador 0,05 µm
Método de comparação com padrão de circularidade, esfera padrão, esquadro cilíndrico e plano óptico
Maquina de Medição de Perfil Eixo X até 300 mm [0,9 + (L/300)] µm, L em mm
Eixo Z até 300 mm 0,3 µm
Raio 0,9 µm
Ângulo 0,020 °
Método de comparação com padrão de perfil, blocos padrão e esfera padrão
Máquina de Medição Linear Até 5000 mm [0,2 + (L/1000)] µm, L em mm
Método de comparação com blocos padrão
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Microscópio Comprimento: Até 300 mm [1,4 + (L/300)] µm, L em mm
Ângulo: Até 360º 1,5´
Ampliação da objetiva: até 2500 X 1,0%
Valor de divisão do reticulo em função da objetiva: Até 2500 X 0,7 µm
Método de comparação com régua de vidro
Método de comparação com escala angular
Projetor de Perfil Eixos X e Y: Até 600 mm [1,4 + (L/300)] µm, sendo L em mm
Processador geométrico do software: Até 10 mm 2,0 µm
Medição angular: Até 360º 2 '
Ampliação da lente: Até 50 x 0,03 %
Ampliação da lente: (> 50 até 100) x 0,10 %
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças Diversas Circularidade:
Até 280 mm 0,05 µm
(> 280 até 2000) mm [5 + (L/220)] µm, L em mm
(> 2000 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Cilindricidade:
Até 280 mm 0,40 µm
(> 280 até 2000) mm [5 + (L/220)] µm, L em mm
(> 2000 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Planeza:
Até 280 mm 0,10 µm
(> 280 até 3000) mm 1,5 µm
(> 3000 até 6000) mm 6,0 µm
Retitude:
Até 300 mm 0,20 µm
(> 300 até 1000) mm 5 µm
(> 1000 até 2000) mm [5 + (L/220)] µm, L em mm
(> 2000 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Paralelismo:
Até 300 mm 0,20 µm
(> 300 até 1000) mm 5 µm
(> 1000 até 2000) mm [5 + (L/220)] µm, L em mm
(> 2000 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Perfil de linha,perfil de superfície,posição de um elemento,concentricidade, coaxilidade,simetria, perpendicularidade,inclinação, batimento axial
Até 300 mm 0,8 µm
(> 300 até 2000) mm 5 µm
(> 2000 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Até 360 ° 1 ´
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Método de comparação com máquinas, instrumentos e gabaritos de medição de comprimento e ângulo ou padrões de referência
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes Até 2000 mm [0,2 + (L/1000)] µm, L em mm
(> 2000 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Método de comparação com máquinas, instrumentos e gabaritos de medição de comprimento ou padrões de referência
Arame para Medição de Roscas Até 10 mm [0,5 + (L/500)] µm, sendo L em mm
Método de medição com máquina de medição linear
Bloco Padrão (0,5 até 100) mm 0,05 µm até 0,12 µm
(> 100 até 600) mm [0,3 + (L/500)] µm, L em mm
Método de comparação com blocos padrão de referência
Método de comparação com máquina de medição linear e bloco padrão
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Calibrador Anel Estriado (2 até 200) mm (Parâmetro Mdk) [1,5 + (L/ 500)] µm, sendo L em mm
Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico e máquina de medição linear
Calibrador Anel Liso Cilíndrico Parâmetros: Diâmetro 1 mm até 200 mm [0,7 + (L/500)] µm, sendo L em mm
Diâmetro: Método da comparação direta com calibrador anel liso cilíndrico, utilizando uma máquina de medição linear
Calibrador Anel Liso Cônico Diâmetro: Até 500 mm 5 µm
Conicidade: < 90° 1 ´
Método de comparação direta utilizando uma máquina de medição por coordenadas
Calibrador de Boca 1 mm até 200 mm [0,7 + (L/500)] µm, sendo L em mm
Método de comparação com um calibrador anel liso cilíndrico, utilizando uma máquina de medição linear
Calibrador Tampão Estriado Até 200 mm (Parâmetro Mdk) [1,5 + (L/ 500)] µm, sendo L em mm
Método de comparação com bloco padrão e máquina de medição linear
Calibrador Tampão Liso Cilíndrico Parâmetros: Diâmetro até 300 mm [0,5 + (L/500)] µm, sendo L em mm
Diâmetro: Método de comparação direta utilizando uma máquina de medição linear
Calibrador Tampão Liso Cônico Diâmetro: Até 300 mm 5 µm
Conicidade: < 90° 1 ´
Método da comparação com máquina de medição por coordenadas
Esfera Padrão Parâmetros: Diâmetro até 250 mm [0,5 + (L/500)] µm, L em mm
Circularidade 0,10 µm
Método de comparação com máquina de medição linear e bloco padrão
Método de comparação com máquina de medição de forma
Haste Padrão Até 500 mm [0,5 + (L/ 500)] µm, sendo L em mm
> (500 até 1000) mm 5 µm
> (1000 até 1500) mm 8 µm
> (1500 até 2000) mm 10 µm
Método de comparação com bloco padrão utilizando máquina de medição linear ou máquina de medição por coordenadas
Haste Padrão para Micrômetro de Rosca Até 500 mm 5 µm
Método de comparação utilizando máquina de medição por coordenadas
Moldura Até 500 mm 5 µm
Método de comparação com máquina de medição por coordenadas.
Padrão de Espessura para Medidas de Espessura de Camada de Tinta Seca Até 10 mm 0,5 µm
Método de medição com máquina de medição linear
Padrão Escalonado Até 2000 mm [0,8 + (L/1000)] µm, L em mm
Método de comparação com sistema laser interferométrico Método de comparação com padrão escalonado de referência em máquina de medição por coordenadas
Padrão Escalonado com Tambor Micrométrico Até 2000 mm 0,8 + (L/1000)] µm, L em mm
Método de comparação com sistema laser interferométrico Método de comparação com padrão escalonado de referência em máquina de medição por coordenadas
Padrão Escalonado para Micrômetro de Profundidade Até 2000 mm [0,8 + (L/1000)] µm, L em mm
Método de comparação com sistema laser interferométrico Método de comparação com padrão escalonado de referência em máquina de medição por coordenadas
Esquadro Até 2000 mm [5 + (L/ 220)] µm, L em mm
Método de medição em máquina de medição por coordenadas
Esquadro Cilíndrico Até (Ø 280 x 300) mm
Circularidade 0,1 µm
Cilindricidade 1,0 µm
Retitude vertical 0,6 µm
Paralelismo 1,3 µm
Perpendicularidade 5,0 µm/m ; 1 "
Método de comparação com máquina de medição de forma e esquadro cilíndrico padrão
Cilindro Padrão Até (Ø 280 x 300) mm
Circularidade 0,1 µm
Cilindricidade 1,0 µm
Retitude vertical 0,6 µm
Paralelismo 1,3 µm
Perpendicularidade 5,0 µm/m ; 1 "
Método de comparação com máquina de medição de forma e esquadro cilíndrico padrão
Padrão de Circularidade Até 150 mm 0,06 µm
Método de comparação com padrão de circularidade de referência e máquina de medição de forma
Padrão de Perfil Até 300 mm [0,9 + (L/200)] µm, L em mm
Até 180 ° 0,020 °
Método de comparação com padrão de perfil de referência e máquina de medição de perfil
Régua Padrão de Retitude Até 2000 mm [5 + (L/ 220)] µm, L em mm
Método de determinação da retitude utilizando máquina de medição por coordenadas
Calibrador Ajustável Roscado (2 até 200) mm 4 µm
Método de medição com máquina de medição linear
EURAMET cg-10:2012
Calibrador Anel Roscado Cilíndrico (2 até 200) mm 4 µm
Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico ou filetes padrão em máquina de medição linear (método das duas esferas)
EURAMET cg-10:2012
Calibrador Anel Roscado Cônico (2 até 200) mm 4 µm
Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico ou filetes padrão em máquina de medição linear (método das duas esferas)
EURAMET cg-10:2012
Calibrador Tampão Roscado Cilíndrico Até 200 mm 3 µm
Método de medição com máquina de medição linear utilizando arames duplos e simples
EURAMET cg-10:2012
Calibrador Tampão Roscado Cônico Até 200 mm 3 µm
Método de medição com máquina de medição linear utilizando arames duplos e simples
EURAMET cg-10:2012
Gabarito de Roscas Passo: Até 10 mm 3 µm
Ângulo: Até 60º 3´
Método de medição em projetor de perfil
Escala Angular Digital Até 360 ° 2,0 ´
Método de comparação com escala angular digital
Calibrador de Relógio Comparador / Apalpador Até 100 mm [0,15 + (L/500)] µm, L em mm
Método de comparação com comparador de deslocamento
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Máquina de Medição de Forma Cilindricidade 0,55 µm
Circularidade 0,05 µm
Retitude vertical até 450 mm 0,30 µm
Retitude horizontal até 150 mm 0,30 µm
Paralelismo até 450 mm 0,85 µm
Planeza até 50 mm 0,10 µm
Planeza (> 50 até 100) mm 0,15 µm
Perpendicularidade até 300 mm 0,50 µm
Perpendicularidade (> 300 até 450) mm 1,7 µm
Sensibilidade do apalpador 0,05 µm
Método de comparação com padrão de circularidade, esfera padrão, esquadro cilíndrico e plano óptico
Maquina de Medição de Perfil Eixo X até 300 mm [0,9 + (L/300)] µm, L em mm
Eixo Z até 300 mm 0,3 µm
Raio 0,9 µm
Ângulo 0,020 °
Método de comparação com padrão de perfil, blocos padrão e esfera padrão
Máquina de Medição Linear Até 40000 mm [0,2 + (L/1000)] µm, sendo L em mm
Método de comparação com blocos padrão
Métodode de comparação com sistema laser interferométrico
Microscópio Comprimento: Até 300 mm [1,4 + (L/300)] µm, L em mm
Ângulo: Até 360º 1,5´
Ampliação da objetiva: até 2500 X 1,0%
Valor de divisão do reticulo em função da objetiva: Até 2500 X 0,7 µm
Método de comparação com régua de vidro
Método de comparação com escala angular
Projetor de Perfil Eixos X e Y: até 600 mm [1,4 + (L/300)] µm, L em mm
Processador geométrico do software: Até 10 mm 2,0 µm
Medição angular: Até 360º 2 '
Ampliação da lente: Até 50 x 0,03 %
Ampliação da lente: (> 50 até 100) x 0,10 %
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças Diversas Circularidade:
Até 100 mm 1,0 µm
(> 100 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Cilindricidade:
Até 100 mm 1,0 µm
(> 100 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Planeza:
Até 25 mm 0,5 µm
(> 25 até 3000) mm 1,5 µm
(> 3000 até 8000) mm 6,0 µm
(> 8000 até 15000) mm 50 µm
Retitude:
Até 500 mm 10 µm
(> 500 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Paralelismo:
Até 100 mm 1,0 µm
(> 100 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Perfil de linha, perfil de superfície, posição de um elemento, concentricidade, coaxilidade, simetria,
perpendicularidade, inclinação, batimento radial e batimento axial
Até 300 mm 10 µm
(> 300 até 3000) mm [10 + (L/100)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
Até 360 ° 1 ´
Método de medição com sistema laser interferométrico, máquina de medição linear, braço articulado de medição, sistema óptico tridimensional
ou padrões de referência
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes Até 3000 mm [0,2 + (L/1000)] µm, L em mm
(> 3000 até 6000) mm [10 + (L/50)] µm, L em mm
(> 6000 até 25000) mm (0,5 até 6,0) mm
Método de comparação com sistema laser interferométrico
Método de comparação com máquinas, instrumentos e gabaritos de medição de comprimento e ângulo ou padrões de referência