Detalhes do Laboratório

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Detalhes do Laboratório
Nome do Laboratório:3D Metrologia Ltda.
Acreditação:687
Data da Acreditação:2019-01-31
Última Revisão do Escopo:2024-05-13
Razão Social:3D Metrologia Ltda.
Situação: Ativo
Endereço:Rua Jacob Jaeger, 187, Cristo Rei, São Leopoldo - RS
CEP:93020510
Telefone:(51) 3592.9810
Fax:
Email:adroaldo@3dmetrologia.com.br
Grupo de Serviço de Calibração:DIMENSIONAL
Gerente Técnico:Adroaldo da Silva Silveira
Escopo de Calibração
Serviço Parâmetro CMC
Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)
Medidor de Altura 0 mm até 600 mm 0,0019 mm até 0,0030 mm
> 600 mm até 1000 mm 0,0023 mm até 0,0038 mm
Método de comparação com blocos padrão e/ou padrão escalonado ou com máquina de medição por coordenadas
Micrômetro de Profundidade 0 mm até 300 mm 0,0025 mm
Método de comparação com máquina de medição por coordenadas
Micrômetro Externo 0 mm até 100 mm 0,001 mm
> 100 mm até 1500 mm 0,0034 mm até 0,0041 mm
Paralelismo 0,00059 mm
Planeza 0,00038 mm
Método de comparação com blocos padrão ou com máquina de medição por coordenadas.
Método de medição com paralelos ópticos ou bloco padrão
Paquímetro 0 mm até 300 mm 0,01 mm
> 300 nm até 1500 mm 0,010 nm até 0,014 mm
Método de comparação com bloco padrão e calibrador anel liso ou máquina de medição por coordenadas
Método de comparação com micrômetro (medição dos bicos, se aplicável)
Relógio Apalpador 0 mm até 2 mm 0,001 mm
Método de medição com máquina de medição linear, comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios
Relógio Comparador 0 mm até 100 mm 0,001 mm
Método de medição com máquina de medição linear, comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios
Máquina de Medição de Forma Sensibilidade do Apalpador 0,50 µm
Circularidade 0,05 µm
Cilindricidade até 440 mm 0,61 µm 0,41 µm
Retitude vertical até 440 mm 0,29 µm
Retitude horizontal até 54 mm 0,14 µm
Paralelismo até 440 mm 0,46 µm
Planeza até 54 mm 0,08 µm
Método de comparação com cilindro padrão, padrão de amplificação radial, semiesfera padrão e plano óptico
Maquina de Medição de Perfil Eixo X até 83 mm 0,002 mm
Eixo Z até 40 mm [0,00015 +L/76900] mm, onde L em mm
Raio até 10 mm 0,0013 mm
Angular até 91° 0,011°
Método de comparação com padrão de perfil e bloco padrão
Máquina de Medição Linear 0 mm até 20000 mm [0,00011 +L/1080000] mm, onde L em mm
Método de comparação com blocos padrão/laser interferométrico
Máquina de Medição por Coordenadas Até 20000 mm [0,2 + L/1150] µm, onde L distância em mm
Perpendicularidade 0,0019 mm
Planeza 0,0013 mm
Distância 0,0013 mm
Circularidade 0,0013 mm
Método de comparação com laser interferométrico/padrão escalonado/peça padrão de referência
Projetor de Perfil 0 mm até 300 mm 0,002 mm
até 360º 01´ 12"
Método de comparação com régua graduada e padrão angular
Sistema de Medição Óptico Tridimensional Medição óptica até 300mm [0,002 + L/300000] mm, onde L em mm
Apalpação por imagem até 50 mm 0,001 mm
Medição por foco até 100 mm 0,001 mm
Perpendicularidade até 360º 0,003 mm/01´12´
Método de comparação com régua graduada, padrão angular e bloco padrão
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças Diversas Paralelismo até (900 x 1600 x 800) mm 0,0014 mm
Concentricidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Coaxialidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Simetria até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Posição de um elemento até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Batimento Radial até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Batimento Axial até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Perfil de linha até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Perfil de superfície até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Inclinação até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Retitude até (900 x 1600 x 800) mm 0,00042 mm
Planeza até (900 x 1600 x 800) mm 0,00009 mm
Circularidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,00010 mm
Cilindricidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,00079 mm
Perpendicularidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Inclinação até (900 x 1600 x 800) mm 0,0033 mm
Método de comparação utilizando máquinas, instrumentos, gabaritos ou padrões de referência.
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes 0 até 500 mm 0,0008 mm até 0,0029 mm
> 500 mm até 1600 mm 0,0041 mm até 0,0090 mm
Ângulo até 360º 2´
Método de comparação utilizando máquinas, instrumentos, gabaritos ou padrões de referência
Calibrador Anel Liso Cilíndrico 4 mm até 200 mm 0,0012 mm até 0,0021 mm
Cilindricidade 0,0033 mm
Circularidade 0,0042 mm
Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico utilizando máquina de medição linear ou máquina de medição por coordenadas
Esfera Padrão 0 mm até 100 mm 0,0008 mm até 0,0009mm
Método de comparação com máquina de medição linear
Desempeno 0 mm até 1700 mm 1,8 µm
Medição das alturas dos pontos de referência definidos no mapeamento utilizando-se nível eletrônico, para determinação do erro de planeza
Medidor de Altura 0 mm até 1000 mm 0,0019 mm até 0,0042 mm
Método de comparação com blocos padrão e/ou padrão escalonado
Micrômetro Externo 0 mm até 100 mm 0,001 mm
Paralelismo 0,00059 mm
Planeza 0,00038 mm
Método de comparação com blocos padrão ou com máquina de medição por coordenadas Método de medição com paralelos ópticos ou bloco padrão
Paquímetro até 300 mm 0,01 mm
Método de comparação com bloco padrão e calibrador anel liso
Método de comparação com micrômetro (medição dos bicos, se aplicável)
Relógio Apalpador 0 mm até 2 mm 0,001 mm
Método de medição com comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios
Relógio Comparador 0 mm até 25 mm 0,001 mm
Método de medição com comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios
Máquina de Medição de Forma Sensibilidade do Apalpador 0,25 µm
Circularidade 0,03 µm
Cilindricidade até 440 mm 0,41 µm
Retitude vertical até 440 mm 0,27 µm
Retitude horizontal até 54 mm 0,14 µm
Paralelismo até 440 mm 0,87 µm
Planeza até 54 mm 0,05 µm
Método de comparação com cilindro padrão, padrão de amplificação radial, semiesfera padrão e plano óptico
Maquina de Medição de Perfil Eixo X até 83 mm 0,0007 mm até 0,0012 mm
Eixo Z até 40 mm 0,0002 mm até 0,0007 mm
Angular até 91° 0,0067 °
Raio até 10 mm 0,0006 mm
Método de comparação com padrão de perfil e bloco padrão
Máquina de Medição Linear 0 mm até 100 mm 0,00028 mm até 0,00029 mm
> 100 mm até 1000 mm 0,0003 mm até 0,001 mm
> 1000mm até 20000 mm 0,001 mm até 0,019 mm
Método de comparação com blocos padrão/laser interferométrico
Máquina de Medição por Coordenadas 0 mm até 600 mm 0,7 µm até 1,0 µm
> 600 mm até 20000 mm 1,0 µm até 34 µm
Circularidade 0,0049 mm
Distância 0,0013 mm
Perpendicularidade 0,0010 mm
Planeza 0,0013 mm
Método de comparação com laser interferométrico/padrão escalonado/peça padrão de referência
Projetor de Perfil 0 mm até 300 mm 0,002 mm
0º até 360º 01´ 12"
Método de comparação com régua graduada e padrão angular
Sistema de Medição Óptico Tridimensional Medição óptica 0 mm até 300 mm 0,001 mm até 0,002 mm
Apalpação por imagem até 50 mm 0,001 mm
Medição por foco até 100 mm 0,001 mm
Perpendicularidade até 360º 0,003 mm/01´12´
Método de comparação com régua graduada, padrão angular, bloco padrão e anel padrão
Desempeno 0 mm até 1700 mm 2,3 µm até 2,8 µm
Medição das alturas dos pontos de referência definidos no mapeamento utilizando-se nível eletrônico, para determinação do erro de planeza